環國的專利

申請人 專利名稱 國別 類別 申請案號 申請日 證書號
環國科技 多層薄膜輸出介面及其製作方法 TW 發明 88108033 88.5.18 123050
環國科技 薄膜連接界面及其製作方法 TW 發明 88116929 88.10.1 469547
環國科技 積體電路裝置之測試方法 TW 發明 88116930 88.10.1 455689
環國科技 積體電路裝置之薄膜探針測試座 TW 發明 88116930 88.10.1 148586
環國科技 薄膜壓平結構裝置 CN 新型 982050011 88.05.28 ZL98205001.1
環國科技 撓性測試薄膜 JP 新型 2001-3985 90.06.19 3082765
環國科技 薄膜測試夾頭 TW 新型 89219920 89.11.17 460036
環國科技 高記憶容量之唯讀記憶體 TW 新型 90215884 90.9.14 194985
環國科技 微井承載基材 TW 新型 90215885 90.9.14 217891
環國科技 顯示面板之測試薄膜探針 TW 新型 91216869 92.12.09 219418
環國科技 微機電撓性橋型探針 TW 新型 91217136 91.10.25 224170
環國科技 測試中介片 TW 新型 92219107 92.10.28 252020
環國科技 外露型薄膜探針 TW 新型 93216434 93.10.15 270356

   Last Update : 2008/08/06


2F, No. 13 R&D Rd.1, Science Based Industrial Park,
Hsinchu, 300, Taiwan, R.O.C.

新竹科學園區研發一路13號2樓  
Tel : 886-3-5799861                                                                                      inno_service@innotest.com.tw
Fax: 886-3-5799862                                                                                          Copyright Innotest Inc.