薄膜探針技術

薄膜探針技術      

在小間距的產品測試需求上. 相較於傳統測試的方法, 使用薄膜技術可產生較高的精確度和更低的費用. 使用傳統的測試方法, (諸如 pogo 針 及針頭探針) 其精確度較低, 同時測試使用壽命也較短. 傳統的測試方式在不久的將來, 也會因 IC 間距縮小而被淘汰. 

以下的照片是我們薄膜探針的其中一個應用, 顯示使用我們薄膜探針的效益. 上面的裝置是利用我們專利的薄膜探針技術來測試 DDR ,底下的則是使用針頭探針連接技術測試 DDR 記憶體的測試裝置. 薄膜探針達到 5x 比傳統的測試裝置針頭成本更便宜. 底下的裝置將會磨損較快, 並且增加較高的成本, 現在正是使用薄膜探針的最好時機. 更請進一步瞭解我們的記憶體模組測試插座 請點擊這裡



在我們記憶體測試頭上的探針設計是依據客戶的需求. 環國有能力依照客戶的要求, 製造不同種類的探針.

以下是一些我們為不同的客戶生產製造的不同型態的探針. 


突出的探針

以下的照片顯示突出的薄膜探針. 這些在薄膜上的探針在客戶的積體電路上能夠收縮調整不同的接觸高度. 



其他探針

以下的照片中我們還有其他兩種探針設計. 


左邊的連結都是我們利用薄膜探針技術所生產

2F, No. 13 R&D Rd.1, Science Based Industrial Park,
Hsinchu, 300, Taiwan, R.O.C.

新竹科學園區研發一路13號2樓  
Tel : 886-3-5799861                                                                                      inno_service@innotest.com.tw
Fax: 886-3-5799862                                                                                          Copyright Innotest Inc.