LCD 探針測試

LCD 薄膜探針技術     

傳統的針頭探針測試只能用在大約 100 微米的間距,也因為這個限制,傳統的針頭探針方式將不具有充足的能力來測試更精密的 LCD 面板,而使用環國科技的薄膜探針,您的品保部門將可以處理小至 10~30 微米間距的測試。

我們的薄膜探針不僅証明符合未來您的品質保證所需,同時也減少一般針頭探針所引起的針頭損壞,每一個薄膜探針也被設計為可以執行個別的測試於紅色、綠色和藍色。

以下的照片是使用我們薄膜探針 LCD 面板測試機台的其中之一:

   
  

下列是此 LCD 薄膜探針的規格:


薄膜間距:25 微米
薄膜寬度:17 微米
間距誤差:+/- 1 微米
探針材質:鎳合金
負  荷:200 微米 (最大)
接  觸  力:4~12 克/針
接觸阻力:< 10
Ω / 針
絕緣阻力:10 M
Ω
長針高度:10 ~ 30 微米

我們適用於各種 LCD 的薄膜探針



我們的 COG (Chip On Glass)  薄膜探針


我們的 LCD 探針頭裝置




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